四探針電阻率測(cè)試儀四探針電阻率儀方阻測(cè)試儀方阻儀四探針電阻率測(cè)定儀
四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。

產(chǎn)品型號(hào)：TC-KDY-1

更新時(shí)間：2024-02-05

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品咨詢 18910534055

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無損檢測(cè)設(shè)備

監(jiān)測(cè)儀高斯計(jì) 回彈儀數(shù)顯拉開法附著力測(cè)試儀電動(dòng)倒角器磨音測(cè)量?jī)x 罐底焊縫真空檢測(cè)盒全自動(dòng)氧彈熱量計(jì)/量熱儀汽油辛烷值柴油十六烷值測(cè)定儀水分儀其他常用儀器電阻測(cè)試儀玻璃瓶抗沖擊試驗(yàn)機(jī) 混凝土抗壓強(qiáng)度檢測(cè)儀拉脫儀便攜式渦流導(dǎo)電儀元素分析儀測(cè)厚儀炭黑含量測(cè)試儀色度/色差儀萬能試驗(yàn)機(jī) 光澤度儀熱膨脹系數(shù)測(cè)定儀數(shù)顯玻璃應(yīng)力儀多功能特斯拉計(jì) 磁導(dǎo)率測(cè)量?jī)x 超聲波強(qiáng)度測(cè)量?jī)x 紅外測(cè)溫儀微機(jī)差熱天平罐底耐壓檢測(cè)儀

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四探針電阻率測(cè)試儀型號(hào)：KDY-1

四探針電阻率測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。
本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測(cè)量某些箔層材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)箔膜?！?/span>小游移四探針頭"，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測(cè)量硅片時(shí)可自動(dòng)進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的Z大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測(cè)量帶來很大方便。
2、主機(jī)技術(shù)能數(shù)
（1）測(cè)量范圍：
可測(cè)電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測(cè)方塊電阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
測(cè)量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用環(huán)境：
溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65%
無較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，無強(qiáng)光直接照射
（6）重量、體積：
主機(jī)重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長(zhǎng)度×寬度×高度）

備注：
等級(jí)測(cè)量時(shí)（測(cè)電阻率），精度<3%
電氣測(cè)量時(shí)（測(cè)電阻），精度在0.3%以內(nèi)