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發(fā)布時(shí)間:2017/10/25
點(diǎn)擊次數(shù):722
              光耦參數(shù)測試儀型號:JFY3010A
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀詳細(xì)介紹 
※概述: 
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀,是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確、操作簡單、使用安全方便,電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來料檢測。 
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 
※             測量參數(shù):
參數(shù)指標(biāo)表:
參數(shù)項(xiàng)  | 測試參數(shù)  | 測試條件設(shè)置  | 
輸入正向壓降(VF)  | 0-2.000V  | 0-400MA  | 
耐壓(BVCEO)  | 0-1200V  | 0-2.000MA  | 
傳輸比(CTR)  | 0-3000  | VCE:0-20V IC:0-2.000A  | 
飽和壓降(Vsat)  | 0-2.000V  | IF:0-400MA IC:0-2.00A  | 
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V | 
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V | 
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